[6496PC 주식]
- 부품 번호:
- SN74BCT8373ADWRE4
- 제조사:
- Texas Instruments
- 상세 설명:
- IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC.
- 제조업체의 표준 리드 타임:
- 재고
- 수명:
- 일년
- 칩 출처:
- 홍콩
- RoHS:
- 결제 방법:
-
- 배송 방법:
- 가족 카테고리:
- KEY Components Co., LTD는 다음을 포함하여 제품 카테고리를 제공하는 전자 부품 유통 업체입니다. PMIC - LED 드라이버, PMIC - 전압 조정기 - 선형, 특수 IC, 임베디드 - 마이크로 컨트롤러, 마이크로 프로세서, FPGA 모듈, 논리 - 범용 버스 기능, 인터페이스 - 드라이버, 수신기, 트랜시버, PMIC - PoE (Power over Ethernet) 컨트롤러 and 클럭 / 타이밍 - 애플리케이션 별 ...
- 경쟁 우위:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8373ADWRE4 electronic components. SN74BCT8373ADWRE4 can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8373ADWRE4, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8373ADWRE4 제품 속성
부품 번호 :
SN74BCT8373ADWRE4
제조사 :
Texas Instruments
기술 :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
시리즈 :
74BCT
부품 상태 :
Obsolete
논리 유형 :
Scan Test Device with D-Type Latches
전원 전압 :
4.5V ~ 5.5V
비트 수 :
8
작동 온도 :
0°C ~ 70°C
실장 형 :
Surface Mount
패키지 / 케이스 :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
공급 업체 장치 패키지 :
24-SOIC
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