[6529PC 주식]
- 부품 번호:
- SN74BCT8374ANT
- 제조사:
- Texas Instruments
- 상세 설명:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP.
- 제조업체의 표준 리드 타임:
- 재고
- 수명:
- 일년
- 칩 출처:
- 홍콩
- RoHS:
- 결제 방법:
-
- 배송 방법:
- 가족 카테고리:
- KEY Components Co., LTD는 다음을 포함하여 제품 카테고리를 제공하는 전자 부품 유통 업체입니다. 메모리 - 컨트롤러, 임베디드 - FPGA (필드 프로그래머블 게이트 어레이), 선형 - 증폭기 - 계측, OP 앰프, 버퍼 앰프, PMIC - 전압 조정기 - 특수용, 인터페이스 - UART (Universal Asynchronous Receiver Tran, 논리 - 특수 논리, 임베디드 - 마이크로 컨트롤러 - 애플리케이션 별 and 인터페이스 - 전문화 됨 ...
- 경쟁 우위:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8374ANT electronic components. SN74BCT8374ANT can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8374ANT, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8374ANT 제품 속성
부품 번호 :
SN74BCT8374ANT
제조사 :
Texas Instruments
기술 :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
시리즈 :
74BCT
부품 상태 :
Obsolete
논리 유형 :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
전원 전압 :
4.5V ~ 5.5V
비트 수 :
8
작동 온도 :
0°C ~ 70°C
실장 형 :
Through Hole
패키지 / 케이스 :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급 업체 장치 패키지 :
24-PDIP
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