[6529PC 주식]
- 부품 번호:
- SN74BCT8374ANT
- 제조사:
- Texas Instruments
- 상세 설명:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP.
- 제조업체의 표준 리드 타임:
- 재고
- 수명:
- 일년
- 칩 출처:
- 홍콩
- RoHS:
- 결제 방법:
-
- 배송 방법:
- 가족 카테고리:
- KEY Components Co., LTD는 다음을 포함하여 제품 카테고리를 제공하는 전자 부품 유통 업체입니다. 메모리 - 배터리, 데이터 수집 - 디지털 - 아날로그 컨버터 (DAC), 논리 - 시프트 레지스터, 인터페이스 - 직접 디지털 합성 (DDS), PMIC - 에너지 미터링, 인터페이스 - 음성 녹음 및 재생, 인터페이스 - 모듈 and 로직 - 게이트 및 인버터 - 다기능, 구성 가능 ...
- 경쟁 우위:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8374ANT electronic components. SN74BCT8374ANT can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8374ANT, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8374ANT 제품 속성
부품 번호 :
SN74BCT8374ANT
제조사 :
Texas Instruments
기술 :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP
시리즈 :
74BCT
부품 상태 :
Obsolete
논리 유형 :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
전원 전압 :
4.5V ~ 5.5V
비트 수 :
8
작동 온도 :
0°C ~ 70°C
실장 형 :
Through Hole
패키지 / 케이스 :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
공급 업체 장치 패키지 :
24-PDIP
최근 소식
당신은 또한 관심이있을 수 있습니다
뜨거운 부품
- 74HC283D/AUJ
- SSTVF16857DGV,118
- SSTUH32864EC/G,551
- PT7C5029B-2DE
- MC10EP16TMNR4G
- SSTV16857DGG,118
- SY100EL16VCZG-TR
- SY10EP16UKG
- SSTVF16859BG
- SSTVA32852AHT
- SSTUF32864BHLFT
- SSTUAF32865AHLF
- IDT74SSTU32865BKG8
- SN74ABT8543DWRG4
- CD40117BPW
- SY100EL16VBZG
- SN74SSTVF16857VRG4
- MC10LVEP16DTR2
- MC10H334FNG
- MC10E116FNR2
- MC100LVEP16DTR2
- SY10EP16VZC
- SY10EL16VDKG-TR
- SY10EL16VCKI
- SY10E116JY-TR
- SY10E116JI TR
- SY100EL16VEZI-TR
- SY100EL16VCZC
- SY10EL16VZG
- MC100EP16VTDT
- NB100LVEP17DT
- NB100LVEP17DTR2
- SN74GTLP2034DGGR
- SSTUH32864EC,557
- IDT74SSTUBH32865ABKG8
- MC100EP16VSDR2G
- SY10EL16VCKC TR
- 74F381PC
- SSTUG32865ET/S,518
- SN74S1050DRG4